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为精准而设计 “高速三维数字光栅控制器”凭借PDG自动光栅控制技术、PMP轮廓测试技术为锡膏印刷、微电子元器件提供高精度的三维和二维测量。内部结构模块化设计,实现了高集成,简单化,有利于各种应用及设备维护。 |
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功能特点 |
PDG可编程全光谱结构光栅 |
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PMP调制轮廓测量技术 |
3维及2维测量 |
克服反射率的差异 |
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超强的稳定性 |
应用于SPI焊膏检测 SPI 解决焊膏缺陷,包括体积、面积、高度、XY偏移、形状,漏印、少锡、多锡、高度偏高、高度偏低、连锡、偏位、形状不良。 |
应用于焊膏印刷 印刷机与SGO-500三维数字光栅控制器(PDG)组合,快速提升3大优势: 降低成本 提高产品检测自控能力 自行组合,误判、识别错误 |
应用于AOI自动光学检测 3D AOI 创新技术解决了现有 2D AOI 无法解决的瓶颈。 利用3维测量核心技术,不受密脚距、透明度、颜色、阴影等周围环境及元器件特性的影响,在原有的2D-AOI基础上快速提升检测能力。
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